顶见 · 经管顶刊中文导读
基于半参数退化建模的可靠性估计
Estimation of reliability with semi-parametric modeling of degradation
Computational Statistics and Data Analysis · 2017
被引 3
ABS 3
Prajamitra Bhuyan
通讯
Debasis Sengupta
可靠性工程
半导体
加速寿命试验
统计建模
退化分析
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