顶见 · 经管顶刊中文导读
循环加速寿命试验下一次性设备的可靠性估计
Reliability estimation for one-shot devices under cyclic accelerated life-testing
Reliability Engineering and System Safety · 2021
被引 35
ABS 3
Xiaojun Zhu
Kai Liu
通讯
Mu He
N. Balakrishnan
可靠性工程
加速寿命试验
统计建模
半导体可靠性
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