顶见 · 经管顶刊中文导读
预测集成电路生产良率的模型
A Model for Predicting the Production Yield of Integrated Circuits
Journal of the Operational Research Society · 1985
被引 2
ABS 3
Virginia F. Flack
通讯
集成电路
生产管理
工程管理
运营研究
阅读原文 ↗